四川省电子学会于10月28日--10月29日,在成都市天奥宾馆召开每年一次的电子产品可靠性学术研讨会。我在会上讲了 “微电子器件的可靠性”中的两个问题： “半导体器件可靠性”的研究内容和半导体器件的使用可靠性，同时介绍了与可靠性试验有关的一组文章。
与会的30多位代表都是有关部门从事元器件可靠性、质量检测等工作的骨干。北京华峰公司介绍了元器件测试系统，必瑞特公司介绍了热像仪产品及应用，与会代表还进行了经验交流并参观了某所检测筛选实验室。
